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场发射扫描电镜(SEM)

发布者:发布时间:2021-09-01浏览次数:

生产厂商

日本电子

型号

JSM-7610F Plus

联系人

陈杰

存放地址

三教108

主要性能指标

二次电子像分辨率:0.8nm(加速电压15kV),1.0nm(加速电压1kV),分析时3.0nm(加速电压15kV,WD 8mm,探针电流5nA);

倍率:Direct magnification:×25 to 1000000(120×90 mm);Display magnification: ×75 to 3000000(1280×960 pixels);

加速电压:0.1~30kV;

探针电流:数pA~200nA;

电子枪:浸没式肖特基场发射电子枪;

电子检测器:高位检测器、低位检测器、R-过滤器内置;

能谱元素分析范围:B5~U92;

样品要求:固体、无毒、无放射性、无污染、无磁、无水分。

仪器使用功能

材料形貌分析及元素分布。

仪器适用范围

广泛应用于材料、地矿、化工、冶金、机械、制药等领域的科学研究和形貌及元素检测。