生产厂商 |
日本电子 |
型号 |
JSM-7610F Plus |
联系人 |
陈杰 |
存放地址 |
三教108 |
主要性能指标 |
二次电子像分辨率:0.8nm(加速电压15kV),1.0nm(加速电压1kV),分析时3.0nm(加速电压15kV,WD 8mm,探针电流5nA); 倍率:Direct magnification:×25 to 1000000(120×90 mm);Display magnification: ×75 to 3000000(1280×960 pixels); 加速电压:0.1~30kV; 探针电流:数pA~200nA; 电子枪:浸没式肖特基场发射电子枪; 电子检测器:高位检测器、低位检测器、R-过滤器内置; 能谱元素分析范围:B5~U92; 样品要求:固体、无毒、无放射性、无污染、无磁、无水分。 |
仪器使用功能 |
材料形貌分析及元素分布。 |
仪器适用范围 |
广泛应用于材料、地矿、化工、冶金、机械、制药等领域的科学研究和形貌及元素检测。 |