型号

JEM-F200

联系人

孟凡旭

存放地址

化学化工实验楼A101

主要性能指标

电子枪类型：场发射电子枪；

小束斑下束流：≥2.5nA（束斑尺寸Φ为1nm时）

分辨率：点分辨率≤0.23nm@200KV；线分辨率≤0.10nm@200KV；信息分辨率≤0.12nm@200KV；

加速电压：20~200kV；

稳定度：加速电压稳定性≤1ppm/min；物镜电流稳定性≤1ppm/min；

TEM模式下放大倍数：500-2000000×；

STEM模式下放大倍数：500-2000000×；

能谱探测器类型：电制冷无窗能谱探头；

探测器有效面积：不低于100 mm²；

能谱分辨率：133eV；

能谱元素分析范围： 5B～92U；

仪器使用功能

材料的高分辨率形貌观察和微区的晶体结构分析及成分分析。

仪器适用范围

广泛应用于材料、医学、化学、物理学和生物学相关的许多科学领域的研究和分析。